ZEISS蔡司 电脑断层扫描测量机 METROTOM 1500 工业CT缺陷分析
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ZEISS蔡司-电脑断层扫描测量机-METROTOM-1500

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品牌 ZEISS蔡司
软件操作 利用ZEISS CALYPSO可评估CT数据,再利用ZEISS PiWeb即可快速地将两者融合于同一份测量报告中
X射线源 160 kv
测量方法 获取海量测量点时,时间显著缩短
X射线探测器 X射线探测器
隐藏性的结构信息 寻找时不具破坏性
ZEISS METROTOM 一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统
配备 配备线性导轨及转台,满足客户对精度的高要求
测量体积 165x140 毫米
型号 METROTOM 1500
商品介绍
产品简介:

CT

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公司名称 博威特仪器(上海)有限公司
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地址 上海市闵行区
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