灰阶响应时间-动态影响分析测量-单机使用或集成模组-Microvision

型号：RTM-HS

品牌：-Microvision

描述：RTM-HS是一个专门用于测试响应时间的模块，瞬变时间能达到10μs，可以用于测量OLED，QLED等新型产品的上升时间，下降时间，过冲Overshoot，运动模糊，灰度响应和频闪Flicker等，可以连接示波器显示测量结果，也可以配置相应软件进行结果分析。RTM可以单独安装在支架上进行单点测量，也可以安装在位移台上，用于自动测量显示屏的不同位置。

产品亮点： 

l 多功能集合体，设计紧凑 

l 灵活搭配，可定制

l 动态范围广，无需ND滤光片

l 自动化测试

l 程序自动控温，精确测量

l 包含MV系统软件，操作界面友好

l 提供完整测试方案

l 基于FPDM标准设计

l 用户可自定义客制化测试

l NIST可溯源校准 

应用范围： 

l 平板显示（FPD）- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma

l 智能移动显示 - 手机，平板

l 投影显示 - 选用余弦扩散器测试

l 抬头显示 - HUD & HDD

l HDTV，NTSC, PAL & SECAM电视

l 适用SS90定位器可测试超大尺寸93”屏幕

l CRT显示 - 单色，彩色，高分辨率医学显示器

升级选项： 

l 多功能光学测量模块SS410（搭配CCD相机或光谱辐射计）

l 精准位移台（搭配位移台，可精确位移从而实现自动测试）

l 标准测量（VESA FPDM 2.0，TCO 5.2, 6.0, 7.0, 8.0，ISO 9241-3XX，ISO 13406）

l DUT位移台（DPS-1显示位移台，可以调整DUT x,y,z轴位置，并可调整角度，精度为0.1°）

l 完整测量系统（搭配其他组件，组成SS430系统）

技术参数：

RTM 时间响应模块

光型：低噪声，快速响应光电二极管

样品频率：1MHz Max. (500kHz可选)

分辨率：16位

探测器响应：20kHz(滤波)

瞬变时间：0.01ms ~ 4s

同步性：软件和外部选项

重复性：3%

亮度范围：0.01 ~ 50Kcd/m²

测试案例

响应时间测试仪 灰阶响应时间 动态影响分析测量 单机使用或集成模组