PRB超声波相控阵试块NB/T47013.15-2021标准

一、PRB系列试块：使用与I型在制和在用金属材料制承压设备焊接接头相控阵超声检测，当试块满足检测需求时，也可采用NB/T47013.3所述的CSK-IIA系列试块，使用范围按NB/T47013.3的规定执行，不适用于内径不大于200mm的管座角接头检测。

 二、技术特征：

1.一种相控阵超声校准试块，其特征在于，该试块包括试块基体(1)、吸声材料(3)和多个横通孔；其中，多个横通孔水平贯穿试块基体，多个横通孔沿试块基体的横向间隔设置，并且多个横通孔(2)的高度均布相同，吸声材料(3)设置在试块基体(1)的拐角处。

2.根据权利要求1所述的一种相控阵超声校准试块，其特征在于，所述试块基体(1)的材质和上下表面的粗糙度与待检测工件一致。

3.根据权利要求1所述的一种相控阵超声校准试块，其特征在于，所述横通孔的高度按照等差数列依次排布。

4.根据权利要求1所述的一种相控阵超声校准试块，其特征在于，相邻两个横通孔之间的横向间距为

5.根据权利要求1所述的一种相控阵超声校准试块，其特征在于，所述试块基体为矩形，吸声材料(3)呈l型，设置在试块基体的底部的两个直角位置。

6.根据权利要求1或5所述的一种相控阵超声校准试块，其特征在于，所述吸声材料(3)靠近试块基体的一侧设置有消声槽。

7.根据权利要求6所述的一种相控阵超声校准试块，其特征在于，所述消声槽为设置在吸声材料侧壁上的锯齿槽。

8.根据权利要求1所述的一种相控阵超声校准试块，其特征在于，所述吸声材料(3)与试块基体的声阻抗相同。

9.根据权利要求1所述的一种相控阵超声校准试块，其特征在于，所述试块基体上设置有用于表示每个横通孔高度、折射角极小值和和折射角极大值的刻度标识。

10.一种权利要求1-9任一项所述的一种相控阵超声校准试块的校准方法，其特征在于，将相控阵超声(5)耦合在试块基体的上表面，并横向移动找到距离试块基体的上表面最小的横通孔(2)在相控阵超声(5)最小折射角下的最高回波，然后根据该横通孔的刻度标识作为辅助快速找到其最高回波；然后根据上述方法依次扫查不同高度的横通孔(2)，实现了一次耦合获得不同高度横通孔及其对应的不同角度相控阵超声折射角的测定。

三、技术总结

本发明公开了一种相控阵超声校准试块及校准方法，该试块包括试块基体、横通孔、吸声材料、刻度。其中试块基体正面为矩形，横通孔垂直于试块基体正面，吸声材料设置在试块基体的左下角和右上角，刻度在试块基体的上表面和下表面。本发明通过将不同深度的横通孔在横向错开设置，实现了在一次耦合中、沿着试块上表面或下表面横向扫查便可获得不同深度、不同折射角的相控阵超声的横通孔回波，实现了TCG的有效校准，减少了测量时间，精简了校准程序；通过在左下角和右上角设置吸声材料和消声槽，大大降低了试块的端角反射回波，使得即使横通孔离试块端角较近，端角回波也不会对横通孔回波造成严重干扰；通过在试块上表面设置刻度，实现了不同深度横通孔及其对应的不同角度相控阵超声折射角的探头耦合位置的快速准确确定。阵超声折射角的探头耦合位置的快速准确确定。阵超声折射角的探头耦合位置的快速准确确定。