高价回收FISCHER X-RAY XDLM-C4膜厚仪提供租凭服务 菲希尔 Fischer ：XDLM-B、XDL-B、XMDVM-T7.1W、XMDVM-T7.1P XUL XULM XDLM231 XDL210 XDL230 XDV-u等等 

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X射线部件的操作 

? 控制整个测量过程 

? 先进的基本参数法可进行无标准片测量 

? 用受认证的标准片进行校准，可以完成有标准片调校的测量 

? 可以同时分析材料成分和测量计算镀层厚度 

? 按照元素波峰进行自动元素识别 

? 测量值可以以karat, wt% 或 ‰表示 

? 客户自定义报表工具

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