本例中，我们假设制造商使用边缘厚度变化作为测试方法。我们在X、Y两个方向输入0.2mm的最1大倾斜，因此最1大1的半径倾斜为sqrt(0.22+0.22)=0.28mm。

表面不规则度：可以定义为球差和像散的总和，也可以使用Zernike系数来定义（这主要是测量仪器为干涉仪时才这么定义）。本例中，我们使用第1一种方法，并且设定表面不规则度为1/5。

元件公差：主要测量系统的“机械轴”对元件的偏差程度。

公差分析结果

因为我们之前设定了重叠Monte-Carlo分析图，并且在软件中我们打开了OPD图，因此可以看到OPD图中看到20个Monte-Carlo循环计算的结果：看起来距离我们的目标0.05的RMS波长还很远。

在灵敏度分析（Sensitivity Analysis）的过程中，Zemax OpticStudio首先计算原始设计系统 （nominal system）的公差标准，读取第1一个公差操作数，将其调整到最1小值，调整补偿器（优化），返回公差评价标准值。然后再重复操作，但这次是将公差操作数调整到最1大值。最后所有公差都会执行这一步骤。

我们可以用Layout图检查坐标是否正确，但是在Layout图中我们不能检查微小的倾斜或者偏心。因此如果想要检查微小的倾斜或者偏心，最1好是查看系统中每个元素的全局坐标。

在“Analysis / Report / Prescription Data”中打开全局坐标并仅勾选“Global Vertex”。

每个光学元件的全局坐标将在输出窗口中列出，从中可以得到如下结论

第10个表面到第15个表面并未发生倾斜或者偏心，因为第10个表面到第15个表面的旋转矩阵只包含了1和0，并且透镜3和像面的Y轴坐标都为0即这些曲面中心位于系统坐标轴上。

(请注意：10负16次方级别的数字为系统误差，可以视为0)。

镜头2已倾斜5°：表面6到表面7的“Tilt X”为5。