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RoHS分析仪的分析原理

波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长:

nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)

式中 ，λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特点信息。

能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量:

Q=kE式中，E为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特点信息。

待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。

为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。

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RoHS检测仪使用的正确操作方法

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(a)本仪器采用光管产生激发源，因此，在不使用时，仪器会自动将光管的高压断掉，使光管的电源处理待机状态。此时，仪器将不会产生任何射线，同时大大延长光管的寿命。

(b)在放置样品时，只要开启防护罩，仪器也自动将光管停止，不再产生X 射线，完全可以保护使用者的人身安全。

(c)开启、关闭仪器盖子时，应轻开轻放。

RoHS分析仪拆分规则

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1. 拆分的目标是通过适当的拆分手段来获得构成电子电气产品的均质材料。需采取适当的拆分手段来获得均质材料，以确 

保拆分结果用于后续测试时，不会因为拆分不当而产生错误判断。

2. 同一生产厂生产的相同功能、规格（参数）的多个模块、部件或元器件可以归为一类，从中选取代表性的样品进行拆

分，使用相同的材料（包括基材和添加剂）生产的不同部件可视为一个检测单元。

3. 颜色不同的材料应拆分为不同的检测单元。

4. 对于相关法律法规中规定的豁免清单中的项目或材料，在拆分中应予以识别。