PlasmaMS 300型质谱仪将ICP的高温电离特性与四极杆质谱计的灵敏快速扫描的优点相结合而形成一种新型的有力的元素分析、同位素分析和形态分析技术。该技术具有检出限低、动态线性范围宽、干扰少、分析精度高、速度快、可进行多元素同时测定等优异的分析性能，已从初在地质科学研究的应用迅速发展到环境保护、半导体、生物、医学、冶金、石油、核材料分析等领域。

PlasmaMS 300在环境领域的应用
在环境应用领域(监控环境中微量和有毒元素)中，PLASMAMS 300是近年来增长快的应用技术 手段。 该应用的关键是：根据相关法规，必须对水、土壤、淤泥以及其他重要的环境物质中的一 系列元素进行检测，并且这些元素含量都在接近ppb级别。
在环境行业应用中，的挑战是：用同样的分析方法来分析不同基体的样品。在这种情 况下，是在用PLASMAMS 300检测之前对样品基体进行分离。
分离技术近几年在环境样品分析中运用很多。具体方法就是：将iCAP Q与可以分离目 标元素氧化物的附件(一般为色谱，例如LC或GC)偶联。
应用领域：
自来水检测和水污染监测 废水中有毒元素和低水平锕系元素测定
环境污染物中同位素识别和定量

ICP-MS的标准加入法
基体抑制是由基体带来的物理干扰或化学干扰导致的。 使用标准加入法时： 1.首先将少量已知量的分析物添加到预制的分析样品中；
2.然后对这些包含了标准加入物的样品进行再测定，并绘制出浓度曲线；
3.该曲线在浓度轴(X 轴)上的截距即为样品中分析物的浓度，
4.该曲线的实验空白(即未加标样品)CPS（即 Y 轴上的截距），即为样品中分析物的 CPS；
5.标准加入法得到的图形斜率即为该基体中样品的分析灵敏度。
6.标准加入法避免了配置标准曲线，相当于进行了完全的基体匹配。
7.后续样品如果基体和该加标样完全一致，则相当于该方法也为后续未知样品提供了基体 匹配，该加标曲线可以直接用于后续样品的全定量测定。
基体效应以外的干扰并不能通过标准加入法消除，但是可以通过空白扣减来消除，前提是 用来扣减的空白溶液中和样品中含有的干扰水平是一致的。

PLASMAMS 300 在不同行业的应用与干扰
地质样品通常难以消解。相比之下，激光消融几乎不需要任何样品制备，仅仅 需要将样品切至适合激光消融池的大小。
在这一领域中，样品多种多样，质谱分布范围很广，因此此类应用为广泛和复杂。在单 个矿物或样品(minerals or phases)中，可能既需要分析痕量金属含量，又需要进行同位 素信息扫描。
由于在这类样品中存在着大量的稀土元素(rare earth elements)，因此在这类地质样品中 常见的干扰就是氧化物干扰和双电荷干扰。
应用领域:
岩石稀土分析和岩石消解 激光消融分析矿物
同位素比例研究地球及外来物质的原始和进化 水沉积物和地下水