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X荧光光谱仪测试方法：

1、X荧光光谱仪样品制备

进行x射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误筹；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也不同；成份不均匀的金属试样要重熔，快速冷却后车成圆片；对表面不平的样品要打磨抛光；对于粉末样品，要研磨至300目一400目，然后压成圆片，也可以放人样品槽中测定。对于固体样品如果不能得到均匀平整的表面，则可以把试样用酸溶解，再沉淀成盐类进行测定。对于液态样品可以滴在滤纸上，用红外灯蒸干水份后测定，也可以密封在样品槽中。总之，所测样品不能含有水、油和挥发性成份，更不能含有腐蚀性溶剂。

电感耦合等离子体发射光谱是根据被测元素的原子或离子，在光源中被激发而产生特征辐射，通过判断这种特征辐射的存在及其强度的大小，对各元素进行定性和定量分析。

电感耦合等离子体发射光谱法应用于环境水样、土壤样品中的微量元素进行分析，在元素分析测试中的应用技术具有简便、快速、分析速度快;检出限低，多数可达0.005μg/ml以下;测量动态线性范围宽，一般可达5～6个数量级，可同时进行高含量元素和低含量元素的分析，可达到石墨炉原子吸收光谱仪的部分检出水平;可多种元素同时分析，可定性、定量分析金属元素，也可分析部分非金属元素，提高了分析效率，基体效应小，低背景干扰、高信噪比、精密度高、准确性好等优点。

Micro-Z ULS

为石油、以及其他燃料的超低硫分析设计的理学Micro-Z ULS波长色散X射线荧光仪（WDXRF），拥有一个新的特征，可以同时测定硫的峰强和背景强度。测定并校正背景强度变化的能力使获得一个更好的净峰强度测定，从而获得优越的校正以及提高精度。理学Micro-Z ULS 遵照ASTM 2622-10、ISO 20884和JIS K2541-7方法。

卓越的光学器件用于可靠的硫分析

理学Micro-Z ULS是适用于石油基燃料的硫分析，带有一个更低的0.3 ppm硫的检测限（LLD）。 在一个真空环境中使用坚固的器件和一个特殊设计的双曲RX-9分析晶体，Micro Z ULS进行连续的高灵敏度测定。

ASTM D2622性能用于初学用户

为初学用户进行特殊设计，可通过简易操作界面进行从校正到例行分析的所有操作。该分析仪可使用任意标准墙壁电源插座供电。

产品资源丰富，种类齐全，涵盖实验室通用仪器、化学分析、表面科学等，如全谱直读光谱仪、波长\能量色散型X射线荧光光谱仪、电感耦合等离子体发射光谱仪、辉光放电光谱仪、紫外可见分光光谱仪、分子荧光光谱仪、原子吸收光谱仪、扫描电镜、原子力显微镜、金相显微镜、氧氮氢分析仪、碳硫分析仪等。