Semilab-SE-2000型全光谱椭偏仪
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联系人 刘峰 经理
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发货地 上海市虹口区
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商品参数
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商品介绍
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联系方式
品牌 Semilab
光谱范围 193nm-25um
样品台 标准200mm,300mm可选
入射角 20-90度 自动变角
厚度精度 < 0.5nm
折射率精度 < 0.005
是否进口 是
原产国 匈牙利
用途 科研/工业
数据库 定期免费升级
商品介绍
SE-2000型全光谱椭偏测试平台基于椭圆偏振测试技术,通过样品光学模型的建立,计算出单层或多层薄膜结构的厚度、折射率和消光系数,实现精确、快速、稳定的宽光谱椭偏测试。 |
SE-2000光谱椭偏仪是针对产线和实验室推出的多功能高速测试平台测试平台。模块化的设计,可选配300mm样品台或350*450mm平板样品台,Robot上片系统,图形识别系统和数据通信系统,实现高速在线监控。在测试功能方面,可自由组合多种从190nm深紫外光谱至2400nm近红外光谱的探测器,并可拓展FTIR红外光谱测试模组、涡电流法非接触式或4PP接触式方块电阻测试模组、Mueller Matrix各项异性材料测试模组、Raman结晶率测试模组、电子迁移率表征模组、LBIC光诱导电流测试模组、反射干涉测试模组等多种功能,使SE-2000成为光学和电学特性表征综合测试系统。 |
产品特点
业界第一家光谱型椭偏仪测试设备厂商 |
业界标准测试机构定标设备,参与发布中华人民共和国椭圆偏振测试技术标准 |
业界最宽测试光谱范围,选配190nm-25um,可自动切换快速探测模式和高精度探测模式 |
配置实时对焦传感器,实现高速测量 |
选配Robot上片系统,图形识别系统和数据通信系统,实现在线监控 |
独特的样品台结构设计,优化固定大尺寸的柔性材料 |
模块化设计,可综合监控样品光学和电学特性 |
定期免费升级材料数据库 |
开放光学模型拟合分析过程,方便用户优化测试菜单 |
主要应用
光伏行业 |
半导体行业 |
平板显示行业 |
光电行业 |
主要技术指标
最大样品尺寸: 300mm |
厚度测量范围:0.01nm-50um |
厚度测试精度: < 0.5nm |
折射率测试精度:< 0.005 |
联系方式
公司名称 纳瑟(上海)纳米科技有限公司
联系卖家 刘峰
电话 쑡쑤쑥-쑠쑠쑥쑤쑣쑦쑞쑢
手机 쑥쑢쑦쑤쑥쑢쑞쑦쑝쑞쑞
地址 上海市虹口区