8605.16C
• LDD Output Current Range: 0-500 mA
• Typical TEC Output Power: 8 W
• 4.0 Vcomp Compatible
Features:
Complete System Controller for 8 or 16 Channel Applications
EDFA Pumping or DWDM Signal Sources
Outputs Configured for Either Floating or Common Anode Type LD Package Styles
IEEE-488 (GPIB) and RS-232C Interfaces
The Models 8008, 8016, 9008 and 9016 Modular Controllers expand on Newport's modular laser diode controller concept to meet the higher channel densities found in Dense WDM (DWDM) applications and 2-D VCSEL arrays where all the lasers have similar electrical configurations. The eight or sixteen bays accept an array of LDD, TEC, and LDD/TEC combo modules.

Please feel free to contact us for information about mixing and matching controllers and modules.

Advanced 16-bit technology coupled with careful designs that isolate digital and analog signals ensure precision control and measurement capabilities. GPIB/IEEE-488.2 and RS-232C interfaces are included with the Model 8000 mainframe for complete remote control and data collection. LabVIEW drivers are supplied with every Model 8000 Modular Controller.

Features:
DVI Port for External Display
GPIB and LXI-Compliant (Ethernet)
USB Device Ports for External Keyboard and Mouse
Field Replaceable Controller/Power Supply Module
The JDSU MAP-200 Series Multiple Application Platforms are an optical test and measurement platform optimized for cost-effective development and manufacturing of optical transmission network elements. Today's rapidly changing optical market requires investment in productivity-enhancing technologies and tools, making the MAP-200 scalable test platform the right tool needed in even the most stringent environments. Based on the previous-generation Multiple Application Platform (MAP), the MAP-200 builds on the differentiation of offering the broadest portfolio of modules in the densest and most configurable platform. The MAP-200 is optimized for test applications in lab and manufacturing environments ranging from insertion loss testing to dispersion penalty testing.