半导体IC封装测试-旭日鹏程推拉力测试机-破坏性拉力测试ALMP封装测试电子元件推力测试镀膜垂直拉力测试
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半导体IC封装测试 旭日鹏程推拉力测试机 破坏性拉力测试ALMP封装测试电子元件推力测试镀膜垂直拉力测试
推拉力测试机产品优势
所用测试均经过检测公司测试,设备总体系统精准度达到0.1%以下(公开标称0.25%)
满足任何苛刻要求的ic制造工艺要求.
适用于led封装、半导体封装、汽车电子、太阳能产业及各研究所、院校、可靠性分析机构材料分析和电子电路失效分析与测试。
半导体IC金线拉力测试
1,独立自主研发
多年半导体行业资深工作经历的研发团队,以客户需求为第一导向。
2,测试传感器自动更换
只用在软件上对测试工作位进行选项后,设备自动旋转至选择工作位。
3,高精度动态采集系统
公司自主研发高精度数据采集系统,将传感器与数据采集结合,测试数据更加精准。
4,高精密动态传感系统
采用独特的高精度动态传感系统与高速数据采集系统完美结合,给客户带来更好的测试视觉体验。
5,人性化的软件设计
可根据测试需求自由编缉测试方式,推力测试,拉力测试,下压力测试等。
6,防呆滞保护措施
自主研发的防呆滞的智能保护措施,防止因人员误操作对设备进行损伤。
弯曲及压断测试
COB大功率封装测试多功能推拉力测试仪:旭日鹏程生产的TEST系列推拉力测试仪是小型多功能高精度的推拉力测试仪器。
该推拉力测试仪适用于各种产品的推拉负荷测试、下压力测试,破坏试验等,此款推拉力测试仪具有数字显示分辦率高,使用方便,可连接电脑同步显示试验力曲线图及试验过程记录追溯,为新一代高精度的推拉力测试仪器。
电子元件推力测试目前实现的测试功能:
1、拉伸测试、断裂测试、疲劳试验、撕裂测试、剥离测试;
2、力与变形试验,疲劳试验,强度试验 其他弹性体测试;
3、光纤、内引线拉力测试,材料试验;
4、金/银/铜/铝/合金线等键合质量检测;
5、晶圆/固晶、芯片金球金线推拉力测试;
6、半导体IC/LED/光通信/微电子/大功率封装测试;
7、COB,PCB、SMT、BGA/电子元器件推力测试;
8、各类胶水粘接力测试、锡球粘接力测试,微焊点推力测试;
铝线键合拉力测试
序号 | 项目名称 | 规格 | 备注 |
1 | 型号 | TEST4000 | |
2 | 操作 | 自动测试 | |
3 | 传感器精度 | ±0.03% | ①可根据需求,配置多个传感器模块; ②根据产品需求,选用不同传感器模块; ③设备总体系统精准度可达0.1%以下(公开标称0.25%) |
4 | 推力量程 | 量程:0-200kg | |
5 | 拉力量程 | 量程:0-20kg | |
6 | 下压量程 | 量程:0-20kg | |
7 | 拔脱力量程 | 量程:0-20kg | |
8 | X工作台 | 有效行程:80mm;分辩率:0.002mm | XY满行程:0-200mm Z轴满行程:0-100mm |
9 | Y工作台 | 有效行程:80mm;分辩率:0.002mm | |
10 | Z工作台 | 有效行程:80mm;分辩率:0.001mm | |
11 | 平台夹具 | 根据产品定制 X1 | 平台可通用各种夹具,夹具可360°旋转 |
12 | 更换模块 | 插拔式 | |
13 | 模块数量 | 标配2个 | 可根据需求定制多个 |
14 | 耗材 | 推刀X2、钩针X2 | |
15 | 显微镜 | SZN0.67-4.5*WF10X/22 | 三目影像显微镜CCD(选配) |
16 | 摇杆 | 左摇杆模块/R232、右摇杆模块/R485 | 带小键盘,紧急停止功能 |
17 | 操作系统 | Win10正版 | |
18 | 电脑 | 联想电脑,带显示屏 | |
19 | 电源 | 110V/220V | |
20 | 功率 | 300W(max) | |
21 | 重量 | 75KG | |
22 | 尺寸 | 450x620x800mm | |
23 | 软件 | ①自主研发软件,每项传感器采用独立防呆滞/碰撞过力保护功能; ②设备与电脑连接,显示屏可一次显示10块测试数据及力值分布曲线, 可实时导出、保存数据10万块; ③软件自带MES、CPK功能(可根据客户需求定制软件功能);软件免费升级; ④软件自带重复性测试、校正功能,采用国标砝码校正方法。 | |
23 | 备注 | ①采用抽插式模块,可配置多个传感器模块,适应功能强大; ②设备可选配三目显微镜(CCD),在显示屏上观看测试全程; ③测试数据在电脑上以波形图、直方图、数据列表等形式实时显示、保存、打印 ④按下测试按钮,设备即可自动测试,避免人为操作引起的误差,确保数据精确性 ⑤测试数据在电脑上以波形图、直方图、数据列表等形式实时显示、保存、打印。 |