厚度标准块（片）—JJF1306- 2011X射线荧光镀层测厚仪广泛应用于电子、半导体、集成电路等 先进制造领域中镀层膜厚测量仪器的误差校准 及量值溯源，自支撑金属膜厚标准片、镀层膜厚标准 块、涂覆层测厚仪厚度标准片，满足JJF1306- 2011 X射线荧光镀层测厚仪校准规范。

特点：

厚度标准块（片）—JJF1306- 2011X射线荧光镀层测厚仪携带方便，应用灵活，定值精度高，直 接溯源于国家镀层膜厚标准。技术指标：

标称厚度          加工偏差                测量不确定度 

<0.1mm           ±35%                      0.005mm 

0.05~1mm       ±30%                  <0.01mm+5% 

>1~10mm       ±25%                        <5% 

>10~50mm     ±15%                        <5% 

>50mm           ±10%                         <5%

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