德国Gigahertz-optik紧凑型光谱辐射计-BTS2048-UV-S
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德国Gigahertz-optik紧凑型光谱辐射计 BTS2048-UV-S
UV CCD 光谱仪与宽带 CCD 光谱仪
传统 CCD 探测器的光谱响应度通常在 200 nm 至 430 nm 范围内。通常,CCD 探测器的这种宽光谱响应范围被称为光谱辐射计的响应范围。然而,这并没有考虑色散光栅的光谱响应函数,进一步降低了探测器在紫外光谱中的响应度。这会导致 UV 测量信号出现重大误差,主要是通过长波杂散光。宽带光谱仪的光谱分辨率通常不足以测量,例如窄带 UV LED。
德国Gigahertz-optik紧凑型光谱辐射计 BTS2048-UV-S
专门为紫外辐射设计的 CCD 光谱仪具有受限的光谱范围,并允许非常高的光栅效率和非常高的光谱分辨率。此外,滤光片还可用于显着减少杂散光。
BTS2048-UV CCD 分光辐射计,用于紫外辐射
BTS2048-UV 满足高端紫外二极管阵列光谱仪的所有要求,尽管采用尖端技术,但价格极具吸引力。
BiTec 传感器的一个独特功能是它结合了一个背薄型 CCD 光谱仪和一个硅光电二极管,提供了高线性度,从而实现了极快的测量(请参阅有关 BiTec 传感器的技术文章)。具有热电冷却功能的完全线性化的 2048 像素 CCD 探测器提供了非常宽的动态范围,这要归功于其从 2 µs 到 60 s 的积分时间。这可以在广泛的强度范围内测量 UV LED。该设计在 190 nm 至 430 nm 的整个光谱测量范围内提供 0.8 nm 的高光学分辨率。光谱仪还配备了两个滤光片,用于自动低杂散光测量(另见我们的关于光谱辐射计杂散光减少的技术文章)。在存在其他光源的情况下,此类测量对于宽带 UV 灯和 UV LED 是必要的。BiTec 探测器内的线性度非常高的 SiC 光电二极管用于 CCD 的线性化或用作参考探测器。SiC 光电二极管的辐射响应函数使其能够独立于 CCD 使用。可以使用相应的光谱数据自动校正。因此,该器件可用于对非常微弱的信号进行快速测量,这使得 BTS20418-UV 非常适合集成到测角仪中. 尽管尺寸紧凑(103 毫米 x 107 毫米 x 52 毫米 - 长 x 宽 x 高),BTS2048-UV 光谱仪具有一个遥控滤光轮,带有两个光学滤光片和一个用于暗测量的快门。
辐照度的校准低至 200 nm!
多年的经验和设备齐全的 DAkkS 校准实验室 (DK-15047-01-00) 使 Gigahertz-Optik 能够提供低至 200 nm 的可追溯校准。这拓宽了 BTS2048-UV 和 UV-C-LED 的应用范围。对于短波光谱范围,Gigahertz-Optik GmbH 实施了一种特殊的基于氘灯的校准策略。
用于前端和后端 LED 测试测量
BTS2048-UV 非常适合在工业应用中测试 UV 前端和后端 LED。它的 CCD 检测器在触发测量之前集成了所有像素的电子调零功能(电子快门)。当测试 LED 在脉冲电流模式下运行时,电子快门和测量触发可通过触发端口与电源同步。功能强大的微处理器只需 7 毫秒即可通过快速 LAN 接口将完整的数据集传输到系统计算机。
直接安装而不是使用光导
BTS2048-UV 分光辐射计有一个扩散窗,因此可用于测量紫外线辐照度,包括。光谱和峰值波长,无需任何额外的附件组件。通过扩散窗,BTS2048-UV 还可以直接安装在积分球、辐射度透镜和测角仪等配件上,以测量辐射功率、辐射度和辐射分布。
用户软件和软件
标准S-BTS2048 用户软件具有可定制的用户界面,并提供大量显示和功能模块,在使用 Gigahertz-Optik GmbH 的相应附件组件配置 BTS2048-UV 时可以这些模块。S-SDK-BTS2048 开发软件用于将BTS2048-UV 集成到客户自己的软件中。
校准
光度测量设备的一项基本质量特征是其且可追溯的校准。BTS2048-UV 由 Gigahertz-Optik 的ISO/IEC 17025 校准实验室校准,该实验室已获得 DAkkS (DK-15047-01-00) 的光谱响应度和光谱辐照度认证,符合 ISO/IEC 17025。校准还包括相应的附件组件。每台设备都附有相应的校准证书。
UV 优化的 TE 冷却 CCD 光谱仪,具有宽动态范围,用于 CW 和辐照度、光谱和峰值波长的短期测量。其他参数的附件。
紧凑型设备。BiTec 探测器,带有背薄型 TE 冷却 CCD(2048 像素,0.8 nm 光学分辨率,电子快门)和 SiC 光电二极管。光带宽校正 (CIE214)。带快门和边缘滤镜的滤镜轮。带扩散窗的输入镜头。余弦视野。
光谱:3E-5 W/(m²nm) 至 3E4 W/(m²nm) @325nm。从 190 nm 到 430 nm 的响应度。
积分:2E5 W/m² 到 5E-3 W/m² 的等效噪音水平
用于设计应用的 CCD 光谱辐射计。用于集成到前端和后端 LED 测试的测试系统的模块。
工厂校准。可溯源至国际校准标准
用于光谱辐照度、红斑等的测光表。
光谱辐照度 (W/(m² nm))、辐照度 (W/m²)、峰值波长、中心波长、质心波长、红斑。可选积分球:另外光谱辐射功率(W/nm)和辐射功率(W)
漫射器,余弦校正视野 (f2 ≤ 3 %)
4 个位置(打开、关闭、滤光片)。用于远程暗电流测量和杂散光减少。
可以使用二极管和阵列进行并行测量,从而通过二极管对阵列进行线性校正,并通过 a*(s z ( λ )) 和 F*(s z ( λ )) 在线校正二极管的光谱失配。
光谱辐照度
λ | u( k =2) |
(200 - 239) 纳米 | ± 9 % |
(240 - 339) 纳米 | ± 6.8 % |
(340 - 359) 纳米 | ± 5 % |
(360 - 399) 纳米 | ± 4.3 % |
(400 - 430) 纳米 | ± 4 % |
光谱辐照度响应度 (200 - 430) nm
标准测量模式:200 nm 至 430 nm
超出范围杂散光校正测量模式 (OoR SLC):200 nm 至 430 nm
杂散光校正带通测量模式 (BP SLC):300 nm 至 386 nm
2 微秒 - 60 秒 *1
(190 - 430) 纳米
0.8纳米
~0.13 纳米/像素
2048
高灵敏度背薄式 CCD 芯片,一级冷却 (1TEC)
16 位(25 ns 指令周期时间)
± 0.05 纳米
支持数学在线带通校正
完全线性化芯片 >99.6%
越界方法 < 1E-4 *3
5 克拉 *4
5000 *5
>9 级
(3E-5 - 3E4) W/(m²nm) @325nm *6*7
卤素灯的 W/m² (250 - 400) nm