基本结构

（一）导线

1、导体电阻：除TPT、TS和TST等锡芯电线外，UL不要求测量电线电缆产品的导体电阻。

2、线径：通常电线电缆的线径都是偶数AWG，如18AWG、16AWG等，奇数AWG电线属于例外。

3、决定导体截面积的方法有二种：

A、测量每一根绞合芯线截面积之和，测量时至少要取7根苡线直径的平均值作为平均芯线直径。D

以Mils计算：导体截面积CMA=nd2（CMA：Circular Mil Area)

以毫米计算：导体=0.7854*nd2

其中n为导体结构中芯线的根数。芯线直径的测量：根据UL1581第200节，每根芯线直径须使用精度达到0.01mm(0.001英寸），两个端面都是平面的千分尺进行测量。

B、称重法，见UL1581第210节。

测量过程中发现测量值小于要求值（UL1581，Table20.1),可用两种方法中的另一种加以证实。（注：DC电阻测量法不能用来作为测量CMA的*终判断标准）。

导体绝缘厚度

1、测量工具：千分尺

常用的千分尺，测量端面均为平面，*小读数：0.01mm

端面为1.98*9.5mm，荷重10g的荷重千分尺（导体绝缘厚度）

平均绝缘厚度的测量：距端线10英寸开始，每10英寸为一个测量点，测量5个点处导线的外径，导体的直径。

绝缘厚度=（导线外径-导体直径）/2

将5个点处的绝缘厚度平均即得到平均绝缘厚度。

*小绝缘厚度的测量：

测量工具：pin-gauge千分尺,注意此方法适用于18AWG或更大线径的导线结构。截取一段抽出芯线导体的绝缘体，将其放置在千分尺的pin上。测量时先将荷重轻轻抬起，并缓慢转动绝缘体，读取*小值即视作导线绝缘体*小厚度。对于小于18AWG的导线，可采用读数显微镜方法。

2、测量工具，读数显微镜

取样时，小心抽取全部导体芯线，沿导线绝缘体方向垂直切片，在显微镜下测量*薄处的厚度，作为导体绝缘层的*小厚度。

通常将读数显微镜（精度为0.001mm)的测量结果作为*终的参考标准。实际测量时发现一卷电线测量的*小厚度小于规定值多过2Mils，判定该卷电线不合格。w若测量值小于规定值不超过2Mils,应在该卷电线上相距1英尺处抽取两个样测量，如果其中1个结果小于*小值，该卷电线判为不合格，若两个测量值均达标，判为合格。

外被平均外被厚度沿线身测量相距离英寸的5个点处外被的外径以及成缆直径，外被厚度=（外被外径-成缆直径）/2

平均外被厚度为5个点测量值的平均。

外被*小厚度：同导线*小绝缘厚度。外被内表面须先小心抛磨打平，再使用荷重85g,测量截面直径6.4mm的荷重千分尺测量。

读数显微镜测量：方法同导体绝缘厚度测量方法。

常见电线的平均厚度和*小厚度的对照表。

绞距

芯线绞距

取芯线10个绞合的间距的平均值作为芯线平均绞距，测量时去除大约十个绞合长度的绝缘外皮，取任何一支芯线为对象进行测量。注意在去皮时不要损伤芯线，造成芯线断线。

导线绞距

同样取导线的10个绞距长度进行平均，作为平均导线绞距，取样时要注意由于导线绞合时的内应力一扭力很大，去除外被时可能造成原绞合结构的松散。为此，取样时先预留一段护套线不去除外被，再沿线缆方向用利刀片拉掉部分外被，是以能看到待测导线，而导线与外被结合得仍很紧密为宜。将样品平放拉直，量取某一导线十个绞合点之间的距离作为绞距，因为成缆时由于应力的关系，成形外被后原绞合距离会增加。

各种芯线绞距参见UL62。各种线径的导线绞距参见UL6

（二）燃烧测试

电线燃烧等级及测试方法对照表

（三）耐电压测试

电缆中各导线间应施加UL62Table51.1相对应的电压，加压时应在10S至60S钟内缓慢将电压由零加到额定值，保持1分钟。判别标准为在升、降压以及保持期间，Hi-pot机电路报警。另一方面，绝缘电阻测试在某种程序上也能产生类似效果，所以行耐电压测试是一种积的简便测试漏电的方法。

（四）火花测试

对于单芯电源线，如CXTW线，耐电压测试即为火花测试，而对于多芯电源线，日常生产测试中也可以用火花测试代替耐电压测试。

火花测试要点：

火花试验机

（1）镀铬铜珠练长度、从横向和纵向对珠练的间隔，排列方式等进行了规定，日常生产中须定期检查珠练是否掉落，如发现有部分不全，应及时加以更换。

（2）火花机V型测试槽长度L、测试频率、生产电线出线速率的关系，可见工作频率提高，出线速率可以大幅提高，生产效率也可大大提升。

（3）线路接地：保持导体以及放、收线轮与火花机接地良好。