MarSurf XCR 20轮廓仪和粗糙度仪测量一体机

  组合“轮廓和粗糙度“测量任务使用的测量站 - MarSurf XCR 20

 

描述

组合“轮廓和粗糙度“测量任务使用的测量站 - MarSurf XCR 20MarSurf XCR 20 组合测量站是轮廓和粗糙度测量的理想选择。

此测量站包含 PCV / CD 120 驱动单元和 GD 25 粗糙度驱动单元和 MFW 250 B 测头系统。

两个驱动单元均使用联合支架安装在测量立柱 (ST 500/ST 750)上，可用于粗糙度 (GD 25) 或轮廓（PCV 或 CD 120）测量。

结合 XCR 20 测量和评定软件，此测量站配置可用作通用型测量站测量粗糙度深度和轮廓。

主要优势有：

一个测量站适合两种测量任务

* 使用经过检验和测试的 PCV 200 轮廓驱动和测头系统（如上文所述）。

* 使用*** GD 25 和 MFW 250 B 测头和高分辨率测量系统测量粗糙度

另外，此联合测量站还可改装为 XC 20 配置。换句话说，如有需要，您可使用 PCV / CD 120 驱动单元方便地将 XC 20 测量站升级为联合测量站。只需添加 GD 25 驱动单元和联合支架。软件需要从 XC 20 升级为 XCR 20。

 

技术参数:

接触速度(Z方向)	0.1-1mm/s
测杆长度	175mm，350mm
测量速度（文本）	0.2mm/s至4mm/s
针尖半径	25
扫描长度末尾（X方向）	200mm
分辨率	Z方向，相对探针针头： 0.38μm（350mm测杆）/0.19μm（175mm测杆） Z方向，相对测量系统：0.04μm
扫描长度开始（X方向）	0.2mm
取样角	在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至88°，前缘高至77°
定位速度（文本）	X方向返回速度：0.2至8mm/s Z方向：0.2至10mm/s
导块偏差	＜1μm（200mm以上）
测量原则	探针法
输入	R测头，MFW250 光学测头Focodyn*、LS 1*、LS 10* （*仅结合PGK或GD 120 CNC驱动装置）
测量范围mm	（in Z）50mm MFW 250：±25μm，±250μm，（±750μm）；±1000μm,±10000μm（±30000μm）
扫描长度（文本）	自动；0.56mm；1.75mm；5.6mm；17.5mm，56mm， （.022/.070/.224/.700/2.240英寸） 测量至挡块，可变
采样长度数量符合ISO/JIS	1至50（默认：5）
测量力(N)	1mN至120mN左右（可在MarSurf XC 20中设置）

 

测量站配件

标准

MarSurf XCR 20

包含 Midrange 标准控制单元、 XCR 20 软件、 Mahr 许可密钥

MarWin PC*

TFT 24“ 显示器

MCP 21 手动控制面板

GD 25 驱动单元

MFW 250 B 测头系统套件

PCV 200 驱动单元

标准轮廓校准套件

ST-500 测量立柱

GD 25 和 PCV 联合支架

CT 300 XY 工作台

 

可选：

PPS 平口虎钳