Evolution 201紫外分光光度计

Evolution 220紫外分光光度计

光学系统设计

双光束配有样品和参比池架位置；Czerny-Turner单色仪

双光束配有样品和参比池架位置；AFBG技术；Czerny-Turner单色仪

光谱带宽

1.0 nm

可变：1 nm或者2 nm；AFBG微量池优化；AFBG光纤模块优化；AFBG材料测试优化

光源

闪烁式氙灯，质保3年（一般可用5年）

检测器

双硅光电二极管

扫描坐标模式

吸光度Abs，透射率T%，反射率R%， Kubelka-Munklog（1/R），log（Abs），Abs*Factor，强度Intensity

分辨率

>1.6（峰-谷比；甲苯正己烷）

波长范围

190到1100 nm

波长准度

±0.8 nm（全量程190到1100 nm）±0.5 nm（546.11 nm汞线）

重复性

0.1 nm（546.11 nm汞线， 10次测量标准偏差）

扫描速度

< 1到6000 nm/min，可调节

数据间隔

10，5，2，1.0，0.5，0.2，0.1 nm

吸光度范围

> 3.5 A

吸光度显示范围

-0.3到4.0 B1115A

仪器准度

0.5 A：± 0.004 A ，1 A：± 0.006 A ， 2 A：± 0.010 A 依照NIST/NPL，使用中等强度滤光片，在440 nm测量

准度—密封溶液（EP/BP/TGA）

± 0.010 A（60 mg/L K2Cr2O7）

噪声

0 A： 0.00015 A ，1 A： 0.00050 A ，2 A： 0.00080 A ，260 nm，1.0 nm SBW，RMS

漂移（稳定性）

< 0.0005 A/hr ，500 nm，1.0 nm SBW，1小时预热

杂散光

KCl，198 nm： 1% T ；Nal，220 nm： 0.05% T ；NaNO2，340 nm： 0.05% T

基线平直度

± 0.0010 A ，200到800 nm，1.0 nm SBW，平滑处理

键盘

膜密封

本机控制显示

触摸屏LCD面板；800×480；17.8 cm（对角线）屏幕

本机控制操作系统

内置微软Windows XP

尺寸

62.2 cm长 ×48.6 cm宽 × 27.9 cm高

重量

14.4公斤

电源

100-240伏，50-60Hz，自动选择zui大功率150瓦