射频探针应用于：
1）射频和微波模块信号插入，检测和测量输出；
2）高频电路板电气性能分析；
3）高速数字电路分析
村田探针主要与带开关的高频同轴连接器和高频同轴连接器相匹配来测试使用。不同型号的高频同轴连接器对应的村田探针型号也不相同，不同的排列方式也有不同体积的探针选择。

村田电缆探针主要用于实验室评估。就是把探针与SMA接口延长了，在中间加了一断细软射频线，长度通常为300mm，测量射频电缆装配探针。配合完成后，探针可凭借与连接器接触点上的夹爪自行站立，配合完成后对探针施加的任何压力都可能导致探针脱落，连接受损或电级剥离。需要细心使用测试。
常用型号有MXHS83QE3000,MXHQ87WJ3000,MXHQ87WA3000,MXHQ87PA3000,MXHQ87PK3000，
MXHQ87PP3000,MXHQ87PN3000等。

村田自动探针（无张力型）可用于产线大批量测试，其与带浮动机构的自动探针功能相同，该探针具有结构，因此不受电缆张力影响，该探针使转换电缆更易操作。

村田校准适配器用于探针的校准。适配器一侧带有SMA接头，另一侧匹配村田连接器形状，可以连接网络分析仪和相应探针进行校准。常用型号有MM126312,MM126712等。
其他一些相关的概念
Probe pitch：指的是针尖(Probe Tips)之间的间距，一般在50-1000um之间不等。对于毫米波频率的应用，针尖间距一般都比较小。
Probe skate :当你在Z轴方向往下“按压”探针时，当探针接触到DUT，它将在ZY平面弯曲移动。通常，这也是我们判断针是否扎上的一个现象。
De-embeding :去嵌是在探针出现之前就有的技术，之前经常用在一些标准的分立的夹具测试中。