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光电直读光谱仪选择应注意的事项

光电直读光谱仪是指应用光电转换接收方法作多元素同时分析的发射光谱仪器。由于电感耦合高频等离子体光源的广泛使用，使光电直读光谱仪在光谱仪中占有主要地位。

光电直读光谱仪是黑色金属及有色金属（铁基、铝基、铜基、镍基等）材料中化学元素成份快速、定量的分析仪器。广泛应用于冶金、机械、铸造、金属、科研等领域，进行冶炼炉前的在线分析以及中心实验室的产品检验，是控制产品质量的有效手段之一。

光电直读光谱仪选择应注意以下事项：

一、光源发生器的选择

为进行多种样品和元素的分析，需要各种发生器。同时测定多种元素时，根据测定范围选一种激发方法。

火花光源比较适合于同时测定多种元素，如金属中的合金成分和杂质元素的定量分析。电弧光源适用于测定样品中的痕量成分。低压电容放电光源使电路参数变化达到从电弧到火花阶段性变化，可用于多目的的分析。

对直读光谱仪射线强度有影响的因素

对直读光谱仪射线强度有影响的因素是哪些呢？直读光谱仪的定量分析是以荧光X射线的强度为依据的，影响光谱仪射线强度的因素会影响分析的准确度，以下是主要两大影响因素：

一、基体效应

基体效应包括吸收效应及增强i效应。

吸收效应包括基体对入射X射线的吸收及对荧光X射线的吸收。因为用射线激发样品时，不只是作用于样品表面而且能穿透一定的厚度进入样品内部，而且样品内部分析元素产生的荧光X射线，也必须穿过一定厚度的样品才能射出。在穿透过程中，这两种X射线都会因基体元素的吸收而使射线强度减弱，射线减弱会影响对分析元素的激发效率。

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影响手持式光谱仪射线强度因素

不均匀效应

不均匀效应是指样品颗粒大小不均匀及样品表面光洁度对荧光X射线强度的影响。对于粉末样品，大颗粒吸收效应强，小颗粒吸收效应弱，因此，要求颗粒粒度尽量小一些，以减少对X射线的吸收。测短波X射线时，要求粒度在250目以上，测量波长大于0.2nm的长波x射线时，则粒度要求在400目以上。

固体块状试样一定要磨平抛光，粉末试样要压实并使表面平滑。粗糙表面会使荧光X射线的强度明显下降。测量短波X射线时，光洁度在1005m左右，测量长波X射线时，光洁度为20-50Mm.

直读光谱仪的光学系统构造

罗兰装置，光栅中心和感光板中心固定在可动的连杆两端，连杆的长度为光栅的曲率半径，其两端可沿互相垂直的导轨自由滑动，狭缝装有导轨的交点上。在连杆移动过程中，狭缝、光栅和感光板始终在一罗兰圆上。这种装置的缺点为：只能用移动连杆来读取不同波段的光谱。

帕邢装置的罗兰圆为一圆形钢轨，狭缝和光栅都固定在钢轨上，感光板环绕钢轨安装有一排底板架因而可同时拍摄几组光谱，其优点是稳定性高。

依格尔装置，其入射角等于衍射角，其中缝光源安装在底板架的正上方，要改变波段可将光栅和底板沿相反的方向转动同一角度，改变二者间的距离，使之始终位于罗兰圆上。该装置优点为体积紧凑，通常用于真空紫外光谱仪。

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总结的直读光谱仪的特点

USB采集，通用性更强

固态吸附阱，防止油气对光室的污染，提高长期运行稳定性

绿光背景灯，加快响应速度，提高短期分析精度

铜火花台底座，提高散热性及坚固性能

光谱仪概述

光谱仪( Spectroscope)又称分光仪。以光电倍增管等光探测器在不同波长位置，测量谱线强度的装置。其构造由一个入射狭缝，1个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器，由棱镜或衍射光栅等构成，利用光谱仪可测量物体表面反射的光线。