奥林巴斯探头-可更换延迟块测厚-探头发现细小缺陷
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奥林巴斯可更换延迟块的测厚探头
我们提供的各种频率、晶片直径及连接器类型的Panametrics超声探头有5000种以上。
拥有40多年探头研制经验的OlympusNDT已经开发了用于缺陷探测、焊缝检测、厚度测
量及材料分析等特殊应用的各种各样的定制探头。
• 强阻尼探头加上延迟块可以提供的近场分辨率。
• 较高的探头频率提高了分辨率。
• 直接接触法可提高测量薄材料及发现细小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能,适用于曲面工件。
• 测厚。
• 垂直声束缺陷探测。
• 对接触区域有限的工件进行检测。
sonopen可更换延迟块探头
• 聚焦的可更换延迟块。• 尖端直径极小的特点可以提高在曲面及小缺口上的检测性能。
• 手柄可以方便探头头部的定位。
频率 晶片尺寸 标称 探头
MHz 英寸 毫米 平直手柄 直角手柄 45° 手柄
15 0.125 3 V260-SM V260-RM V260-45
SLH-V260-SM*装有弹簧的支架,*仅与V260-SM一起使用
Sonopen可更换延迟块 | ||
尖端直径 | 工件编号 | |
英寸 | 毫米 | |
0.080 | 2.0 | DLP-3 |
0.060 | 1.5 | DLP-302 |
0.080 | 2.0 | DLP-301* |
这些探头用于伸到空间极其狭小的区域进行探测,如:
相距很近的涡轮叶片。探头可旋转的头部提高了
其在狭小区域接触被测工件的能力。
频率 标称 延迟块长度 探头工件编号
晶片尺寸
MHz 英寸 毫米 微秒
20 0.125 3 1.5 M2054
20 0.125 3 4.5 M2055
20 0.125 3 4.0 V2034
美国Dakota超声波探伤测厚仪 - DFX-7 / DFX-7DL
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公司是一间专门生产工业上所使用的测厚仪及探伤设备. 仪器是采用超声波技术,不需
将工件损坏就能作出探伤检查或用作工件厚度或长度测量。