电子产品可靠性测试是为了评估产品在规定的寿命期间内，在预期的使用、运输或储存等所有环境下，保持功能可靠性而进行的活动。是将产品暴露在自然的或人工的环境条件下经受其作用，以评价产品在实际使用、运输和储存的环境条件下的性能，并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。

可靠性测试包括以下几个部分：

1、气候环境测试：高温测试、低温测试、温湿度循环/恒定湿热测试、冷热冲击测试、快速温变测试、低气压测试、光老化测试、腐蚀测试等。

2、机械环境测试：振动测试、冲击测试、碰撞测试、跌落测试。

3、综合环境测试：温度+湿度+振动/冲击/碰撞、HALT/HASS/HASA、温湿度堆码试验、高压蒸煮试验。

4、包材及包装运输测试：环境温湿度测试、堆码测试、包装抗压测试、振动测试、冲击测试、跌落测试、碰撞测试、水平夹持测试、低气压测试。

5、IP防护测试：防尘试验、防水试验。

6、物理性能测试：百格测试、耐磨测试、划痕测试、插拔测试、弯折测试、色牢度测试、防火/燃烧测试;摇摆测试、按键寿命测试、硬度测试、落锤冲击/摆锤冲击测试、拉伸强度/抗压强度/屈服强度测试、熔融指数测试。

7、电磁兼容环境测试：射频性能测试、SAR测试、OTA测试、HAC测试、TCOIL测试、数字电视机性能测试、音视频产品性能测试、卫星导航产品(GPS)性能测试、平板显示性能测试、医疗器械注册检测、电信进网许可检测。

8、电学性能测试：温升测试、耐压测试、绝缘电阻测试、介电强度测试、接触电阻测试、表面电阻率测试、接地电阻测试。

9、失效分析测试：表面/极表面微观测量与分析、无损测量与分析、电性能测量与分析、物理性能测量与分析、焊接工艺测量与分析、PCB/PCBA测量与分析、电子元器件测量与分析、塑胶/橡胶/高分子材料测量与分析、金属材料测量与分析。

电子产品可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。

电子产品的可靠性试验大致包括：高低温、温度冲击、运输振动、跌落、高加速寿命试验等。

其中高加速寿命试验（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验）是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。

HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。