美国GE相控阵探头 GE直探头 GE斜探头 GE水浸探头 GE超声波探头

美国GE特殊探头 原德国KK

数字化 | 涡流 | 胶片 | 检测系统 | 超声波 | X射线

特殊探头能为您解决特殊检测问题

① RB…,MRB…型

用于管道周向检测的斜探头，能够同时从两个周向检测管道的。Lemo00接头。

② IR…型

从管道内部检测缺陷或测量厚度。

③ Z4R6X6/6X

多晶片探头—4MHz，6个6x6mm晶片水浸探头，带2.5m探头线。我们也能提供其他

频率，晶片尺寸和晶片数量的探头，相应的多晶片斜探头可以用来检测横向缺陷。

④ IALF10…型

10MHz水浸探头，园柱曲面，晶片宽30mm，由PVDF材料制成，带1.5m

Lemo1接口探头线。可提供其他频率和晶片尺寸的探头。

用于轴承和轮轴

① B2S-0A…型

1MHz，2MHZ，4MHZ斜探头，晶片直径24mm，可更换保护膜。通过不同角度延

迟块得到7º 14º 21º 28º 纵波斜探头。顶部Lemo1接头。尤其适用于检测大轴承偏

心位置的体积型缺陷。

② AW…型

斜探头，延迟块可更换，2MHZ，晶片直径24mm，Lemo1接头；适用于横波探

伤，探头接触面可与曲面耦合。

③ ASW…型

斜探头，用横波检测轮轴中心孔，带有2m探头线，Lemo1插头一个。

④ B…S, MB…S

直探头，可提供各种频率，晶片直径为10mm和24mm，带延迟块。B…S型为

Lemo1接头，MB…S探头为Lemo00接头。

⑤ Z2GB1, Z4NB5

带延迟块的纵波斜探头，专为电梯轴承检测设计，与Lemo 00插头匹配。

注释:

对于粗晶材料(由于晶粒散射而导致信噪比差)，请参照第15页“粗晶结构材料

的检测”。关于特大轴承检测请参照第6页“大型部件检测”。

用于板坯

① SEZ4R10…型

双晶4MHz探头，声束宽度约为50mm，由一个发射晶片和3个接收晶片组成，一根探头线，带有4个Lemo1接头。

① 5Z6X27ND型

双晶5MHZ探头，声束宽度约为25mm，带Lemo1接头的探头线，尤其适合板材边缘检测。

② B…S-O型

提供各种频率的直探头，可更换保护膜，顶部Lemo1接头。例如用于检测平板辊筒。

③ SEZ4N30V，SEB4TV型

4MHz双晶探头，2.5m带Lemo1接头探头线一根，即使在不断升高的温度下也适用于检测平板辊筒。

④ UWB…

1 MHz，2 MHz或4 MHz入射角可调斜探头，可以得到纵波和横波，配有Lemo1接

口，用于产生兰姆波。

用于大型部件

① NQP…型

用 于 直 接 接 触 法 的 聚 焦 直 探 头 ，2MHZ，晶片直径34mm，50mm，或

75mm，深度越深处，焦点直径越小，Lemo1接头。尤其适用于各个方向的相

邻缺陷。

② WQP…型

聚 焦 斜 探 头 ， 晶 片 直 径 3 4 m m ，50mm，或75mm，深度越深处，焦点直径越小，Lemo1接头。

③ SEB…G型

双晶探头，1 MHz 或 2 MHz， 大晶片，深度聚焦，Lemo 00接头。

④ GRST…型

相控阵探头，声束焦点和角度可变，可用于自动检测系统。

用于特殊形状工件

例如飞机零件

① G…MN，G…KS型

多 种 频 率 高 分 辨 率 的 直 探 头 ， 可 更换延迟块，Microdot接头，G…KS为

Lemo00探头。例如用于涡轮叶片冷却壁 测 量 。 检 测 塑 料 时 ， 延 迟 块 可 根

据 实 际 使 用 环 境 设 计 ， 使 延 迟 块 跟工件耦合，界面回波（0界面探头）。

② H…MN…F型

高分辨率水浸探头，多种频率和晶片直径可选，探头带有喷水耦合的喷嘴和防

水Lemo03接头；例如用于涡轮叶片的厚度测量。

③ SMWB…

小晶片斜探头，4 MHz，5MHz或6 MHz，晶片尺寸3mm x 4mm，Microdot接头；例如检测铆钉孔的裂纹，也可用串联式技术检测。

例如：汽车部件

汽车零件的检测几乎是机械自动化的。活塞，阀门，轮轴，齿轮检测的相关信

息可在特别发布的SD263资料中找到。点焊检测的信息参见第10页。

用于混凝土，石头，和木材

① B0.05N，B0.05U…型

直 探 头 ， 5 0 K H Z ， 接 触 面 3 0 m m 和55mm，信号衰减弱，Lemo1接头；只

能用于穿透式检测。我们可以提供更高频率探头。

② B0.05NN型

直探头，50KHZ，探头通过增强杆增强超声信号，声束传播直径大，Lemo1接

头，只适用于穿透式软质材料的检测(如木材）。

③ K0.1G，K0.25G型

100KHZ和250KHZ直探头，接触面直径45mm，阻尼性好，例如脉冲持续时间

短，防水Lemo1接头；在脉冲回波模式可用于精确测量超声传播时间。

③ B…SL，G0.5G型

250 kHz，500 kHz，1 MHz直探头，各种晶片尺寸可选，Lemo1接头。

用于陶瓷（如绝缘材料）

① K…G，K…N 型

高分辨率直探头，提供各种频率，晶片直径24mm和10mm，耐磨接触面和Lemo00接头。

② IB…

2MHZ或4MHZ，Lemo00接头，窄外壳设计使得探头能进入伞形绝缘体的缝隙中。

③ IW…B…

4MHZ 斜探头，Lemo00接头。入射角取决于缺陷位置和探头耦合点。注释：大部分标准探头可以用于检测大绝缘体，成形的陶瓷工件可使用高频探头（如AP-FM50.3.1）水浸法探伤。

用于简单复合纤维塑料

① G…NS，G…KS型

各种频率冲击波直探头，晶片尺寸可选，通过螺纹固定保护膜或延迟块，Lemo00接头。可以根据工件材料设计延迟块，尽量界面波的影响（0界面探头）。也适用于带涂层工件的厚度测量。

② CA212，CA214

高分辨率直探头，2MHZ，5MHZ，晶片尺寸10mm和24mm，Microdot接头，通过螺纹固定保护膜或延迟块，适用于带涂层工件的厚度测量。

② G…N，G…KB

各种频率冲击波直探头，晶片尺寸可选，Lemo00接头，耐磨接触面。

③ W70B2GT型

70º斜探头，频率为2MHZ，Lemo00接头，适合检测PE和PVC材料。65º斜探头可用于检测大厚度材料，WB70-1适合厚度更大的材料。

说明：

关 于 热 塑 料 的 检 测 请 参 见 特 别 版SD277资料，干耦合检测相关信息见第14页。

用于点焊检测

① G20MN…型

高 分 辨 率 直 探 头 ， P V D F 晶 片 ，20MHZ，Microdot接头和水延迟线，由可更换弹性保护膜密封，用于点焊检测；晶片尺寸取决于点焊焊核，可以用15MHZ探头检测更大厚度的点焊。更多详情请看特别版SD272。

用于精密部件检测

① G…MN型

各种频率冲击波探头，晶片直径可选，Microdot接头，可更换延迟块；尤其适用于点焊检测。

② H…NA，H…KA，H…MA型

各种频率，晶片尺寸可选的水浸冲击波探头，H…N，H…K带2.5m探头线，H…M带1.5m探头线，Lemo00接头；尤其适合厚度测量。

③ H...KP...F, H...MP...F型

各种频率，晶片尺寸，焦距可选的高分辨率水浸探头，防水Lemo03接头，并附有用于机械自动检测的喷水耦合喷嘴。

用于结构复杂，空间接触面积受限制的工件

SMWB型

小晶片斜探头，频率4MHZ，5MHZ，6MHZ。晶片尺寸3mmx4mm，入射角可选，Microdot接头。

② K…M…型

各频率小晶片直探头，（外径2.5mm，高度3mm），Microdot接头或固定细探头线。可提供接触面直径为2mm的锥形延迟块。

③ WSY型

90º爬波探头，Lemo00接头，用来检测难以接近的位置。

注释：

爬波在工件表面下沿直线传播。它并不像表面波一样沿着表面传播。所以有些用其他超声波无法检测到的缺陷可以用爬波检测到。这种探头必须很好的与材料表面贴合在一起才能产生爬波。

不用耦合剂（干耦合）检测

如果在检测工件表面不能使用液体耦合剂，某些情况下可以使用塑料来代替。

用塑料箔或塑料冒安装在探头前面探头和检测工件耦合。滚筒探头，

B1KS，B1KE型带有特殊接触面可以在没有耦合的情况下连续检测。在这种情

况下，探头和被检物件表面的清洁是十分重要的，因为工件表面的脏物会

使探头不能与工件耦合。这种技术尤其适合于塑料检测。详情请参见SD261。

用于粗晶材料的检测（铸件和奥氏体材料）

很多用于检测粗晶材料的探头都得到成功应用，现在已成为标准探头。

包括：

①   K…S，K…SM

各频率高分辨率直探头，晶片尺寸34或28mm，Lemo1接头，通过螺纹固定保护膜，延迟线和斜楔。

② WRY…，WSY…

45º，60º，70º纵波斜探头，高分辨率，频率2MHZ。WSY…频率4MHZ，Lemo00接头。

③ VRY…，VSY…

45º，60º，70º，2MHZ纵波双晶斜探头。VSY… 4MHZ，Lemo00接头。如果您需要与上述标准探头频率、入射角、接头型号不同的探头，请联系我们，我们将给您提供探头，使其能满足您的应用需求。

根据标准检测

很多国家的标准都规定了探头的技术参数，常规检测的检测方法和规范。这些

标准的数量和范围都非常大，在此对于具体的探头参数不一一列举。

如果您需要符合特定标准的探头，请联系我们，如果您急需探头的话，我

们建议您给我们提供基于标准的探头技术资料。