OMP60光学测头

用于工件找正和检测

OMP60超小型3D触发式光学测头，用于在各种大中型加工中心上进行工件找正和检测。它使在机时间节省90%之多，并可减少废品率，降低夹具成本。

与所有雷尼绍光学（传统和新型）兼容，因此用户可轻松升级现有装置。

特性与优点

• 成熟的运动机构设计。
• 采用调制传输功能，具有优异的抗光干扰能力。
• 360°传输范围。
• 超小型设计。
• 各种激活选项和可调节的测力。
• 1 μm 2σ重复性。

我们现在在这套单元上使用测头系统已经超过6年，它帮我们降低了成本，节省了时间，并在工序控制和一致性上都有了巨大的进步。