我国学者对不同时期WDXRF的进展曾予以评述。WDXRF谱仪从仪器光路结构来看，依然是建立在布拉格定律基础之上，但仪器面目全新。纵观30年来的发展轨迹，可总结出如下特点 。

定性和半定量分析自动化。在20世纪80年代，由有经验的分析工作者通过查阅扫谱图来判断定性分析结果，但要依据定性分析结果估算为含量是十分困难的。现在商品仪器基本上配有定性和无标准样(半)定量分析软件，在绝大多数情况下不仅自动给出样品的元素组成，还可得出近似定量的分析结果。

X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法，是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射线荧光光谱仪（XRF）是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）,从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有波长色散型和能量色散型两种，适用于测定铍

(Be)以上的化学元素的含量。它的优点是不破坏样品，分析速度快，分析精度高，样品制备简单。X射线荧光光谱仪还可以用于微区分析及确定分层和涂层的厚度和成分。

ZSX Primus III+

用户使用EZ扫描软件可以在无需任何事先设置即可分析位置样品。这个节省时间的特征仅需点击鼠标和输入样品名称。结合SQX基本参数软件，快速提供准确的XRF结果。SQX能够自动校正包括线重叠的所有矩阵效果。SQX还可以通过光电子（轻、超轻元素）、变化的环境、杂质和不同的样品尺寸校正辅助的激发效应。使用匹配库和的扫描分析程序提高准确性。

仪德人的深耕细作下，客户遍及汽车制造、钢铁冶金、有色金属、电子电器、能源电力、石油化工、铁路运输、机械制造、商检、质检、环境保护、食品药品和教学科研等各行各业。

Features

从O到U的元素分析

上照射式光学化污染

小占地面积节省实验室空间

高精度样品定位

特殊光学减少由于弯曲的样品表面造成的错误

统计过程控制（SPC）的软件工具

优化抽空和真空泄露率改善吞吐量