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台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

膜厚仪是一种比较精密的监测设备，它在平时的使用中对于精准度的要求很高，但是还是会有误差的现象发生，除了仪器本身的一些故障以外，环境因素也是造成误差的“元凶”，本文就介绍一下膜厚仪在不同环境下影响因素的有关说明：

1、基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

2、基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

3、基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

4、边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

5、曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

6、试件的变形

测量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

7、表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度，影响。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

8、磁场

周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

9、附着物质

本仪器对那些妨碍测量头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测量头和被测试件表面直接接触。

10、测量头压力

测量头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

11、测量头的取向

测量头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测量头与试样表面保持垂直。

膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。

膜厚仪特点

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析

镀层分析:可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量（需要配合纯材料）,为您节省购买标准片的成本.完全超越其他品牌的所谓FP软件.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度（如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等）,简单的核对方式,无需购买标准药液.

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