CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的

主要用途有:

1利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度;

2利用50和1.5mm圆孔测定 斜探头的折射角;

3利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;

4利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;

5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;

6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;

7利 用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。